膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

世界一流,經(jīng)濟(jì)有效的Filmetrics薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),測(cè)量薄膜厚度僅需幾秒鐘。Filmetrics系列膜厚測(cè)試儀擁有單點(diǎn)測(cè)量、顯微鏡斑點(diǎn)測(cè)量、自動(dòng)測(cè)繪系統(tǒng)、在線監(jiān)測(cè)等功能型號(hào)的膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品。Filmetrics 膜厚測(cè)試儀通過(guò)分析薄膜的反射光譜來(lái)測(cè)量薄膜的厚度，通過(guò)非可見(jiàn)光的測(cè)量，可以測(cè)量薄至1nm或厚至10mm的薄膜。測(cè)量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度、顏色、折射率甚至是表面粗糙度。

Filmetrics膜厚測(cè)試儀廣泛用于半導(dǎo)體制造（非晶多晶硅、多孔硅、光刻膠、氮化物、氧化物等）、液晶顯示（聚酰亞胺、導(dǎo)電透明膜）、光學(xué)涂層（硬涂層、抗反射涂層）、玻璃和塑料厚度、硬涂層厚度、有機(jī)發(fā)光顯示器、制程薄膜、硅晶圓薄膜等測(cè)試應(yīng)用。

F20 便攜式透明/半透明膜膜厚測(cè)試儀主要用于測(cè)試各種透明半透明的膜厚

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

1 有五種不同波長(zhǎng)選擇(波長(zhǎng)范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)； 
2 最大樣品薄膜厚度的測(cè)量范圍是：3nm ～ 25um； 
3 精度為好于0.1nm。

產(chǎn)品特性：

1 、操作簡(jiǎn)單、使用方便； 
2 、測(cè)量快速、準(zhǔn)確； 
3 、體積小、重量輕； 
4 、價(jià)格便宜。

產(chǎn)品應(yīng)用： 
1 、半導(dǎo)體行業(yè): 光阻、氧化物、氮化物； 
2 、 LCD 行業(yè): 液晶盒間隙厚度、 Polyimides； 
3 、光電鍍膜應(yīng)用: 硬化膜、抗反射膜、濾波片。

型號(hào)規(guī)格：