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為什么要選擇FRU測厚儀(膜厚儀)?

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為什么要選擇FRU測厚儀(膜厚儀)?

發(fā)布日期:2020-10-24 作者:admin 點擊:

目前涂層測厚儀(膜厚儀)所采用的原理基本是以下幾種:
 
1. 放射性測厚法:利用射線穿透檢測。此類儀器價格非常昂貴(一般在10萬人民幣以上)。適用于一些特殊環(huán)境,各項技術(shù)參數(shù)要求相對比較高,使用范圍相對狹窄。
 
2. 超聲波測厚法:利用超聲波頻率變化檢測。適用于多層涂層厚度的測量。一般價格昂貴,測量精度也不高,國內(nèi)暫時還沒有投入生產(chǎn)。
 
3. 微波激光測厚法:正在研發(fā)中。
 
4. 電解測厚法:需要破壞涂層,屬于有損檢測,基本上已棄用。
 
5. 渦流測厚法:利用渦流原理檢測。適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。也就是我們一般所說的鋁基膜厚儀。
 
6. 磁性測厚法:適用導(dǎo)磁是否會的非導(dǎo)磁層厚度測量。也就是我們一般所說的鐵基膜厚儀,這種方法測量結(jié)果精度高。
 
目前國內(nèi)的涂層測厚儀基本是采用渦流測厚法或磁性測厚法或二者相結(jié)合的原理。

 
 
當(dāng)檢測各種非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。例如:鋁型材、鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁工件表面的陽極氧化層或涂層時,我們用鋁基測厚儀。
 
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導(dǎo)體時,就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。
 
當(dāng)所測材料為鐵基時,采用電磁感應(yīng)法測量涂層的厚度。將處于工作狀態(tài)下的測量探頭平穩(wěn)放置于被測件表面上,涂層測厚儀的探頭和被測件連接,形成一個閉合的磁回路。隨著探頭的與被測鐵磁性材料之間距離的改變,該磁性回路將產(chǎn)生不同程度的改變,從而引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理就可以精確地測量探頭與鐵磁性材料之間的距離,該距離即為所測的涂層厚度。
 
分體機不僅適合常規(guī)平整面,而且適合內(nèi)徑大的曲面,有凹槽,夾角,縫隙的產(chǎn)品上涂層厚度的測量,相對來說它比一體基更穩(wěn)定。
 
涂層測厚儀全部采用德國進口的小口徑高精密探頭,在使用的過程中穩(wěn)定性更高。看我們的客戶在實際測量過程中做的數(shù)據(jù)對比圖:

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