商場(chǎng)對(duì)通訊設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求，加之汽車(chē)和其他行業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的日益依靠，正推進(jìn)線(xiàn)路板商場(chǎng)的快速增長(zhǎng)。

商場(chǎng)對(duì)通訊設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求，加之汽車(chē)和其他行業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的日益依靠，正推進(jìn)線(xiàn)路板商場(chǎng)的快速增長(zhǎng)。在進(jìn)步電子元件的產(chǎn)量和滿(mǎn)意更高質(zhì)量期望的一起，企業(yè)正在尋求進(jìn)步質(zhì)量的辦法。鍍層測(cè)厚儀

運(yùn)用合適的剖析儀是此過(guò)程的重要環(huán)節(jié)。X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）是一種廣泛用于丈量鍍層厚度和成分的鍍層技術(shù)，因?yàn)槠渚哂袩o(wú)損、快速和直觀的特點(diǎn)。

XRF儀器具有多種形式，其特征決定了儀器對(duì)應(yīng)用的適用性。

特征尺度

要丈量小樣品上的鍍層，XRF鍍層測(cè)厚儀運(yùn)用以下兩種辦法之一，將X射線(xiàn)管的光束尺度減小到毫米的幾分之一（即微米）：傳統(tǒng)上運(yùn)用的是機(jī)械準(zhǔn)直器，具有小孔的金屬塊放置在光管的前面，只允許與孔對(duì)準(zhǔn)的X射線(xiàn)穿過(guò)并抵達(dá)樣品。較新的技術(shù)運(yùn)用毛細(xì)聚集管光學(xué)元件 — 一種由彎曲和錐形小玻璃管陣列組成的聚集光學(xué)器材。X射線(xiàn)經(jīng)反射引導(dǎo)經(jīng)過(guò)管道，類(lèi)似于光纖技術(shù)中的光引導(dǎo)方法。毛細(xì)聚集管光學(xué)元件與微束X射線(xiàn)管匹配，以搜集更多的X射線(xiàn)管輸出，將其聚集到更小的面積，其通量比機(jī)械準(zhǔn)直系統(tǒng)的通量大幾個(gè)數(shù)量級(jí)。

毛細(xì)聚集管光學(xué)元件通常僅包含一個(gè)光斑尺度，旨在丈量非常小的面積。這也可以丈量更大的樣品，但或許需要對(duì)多個(gè)丈量方位的成果進(jìn)行均勻，或許執(zhí)行掃描以取得全體樣品的代表性成果。具有多個(gè)機(jī)械準(zhǔn)直器的儀器可供給更大的靈活性，因?yàn)榭梢葬槍?duì)要丈量的樣品對(duì)準(zhǔn)直器形狀和尺度進(jìn)行優(yōu)化。而且，運(yùn)用大型準(zhǔn)直器可以更快速地剖析更大的面積。

因?yàn)殡娮与娐泛碗娮釉粩嘧兊酶?、更?fù)雜，所以外表處理需要在更小的特征上進(jìn)行電鍍。盡管您今天或許不需要毛細(xì)聚集管光學(xué)元件，但這或許是一個(gè)不錯(cuò)的挑選，使您的購(gòu)買(mǎi)永不過(guò)期。

應(yīng)用的復(fù)雜性

在任何XRF儀器中，X射線(xiàn)源被用來(lái)激起樣品中元素的發(fā)射熒光。在發(fā)射熒光中，每個(gè)元素都會(huì)釋放出一系列具有特征能量的X射線(xiàn)。運(yùn)用能量色散型XRF儀器，探測(cè)器可一起檢測(cè)到被X射線(xiàn)管激起的所有元素的熒光。探測(cè)器是以下兩種類(lèi)型之一：封氣正比計(jì)數(shù)器或固態(tài)半導(dǎo)體。最常見(jiàn)的固態(tài)檢測(cè)器稱(chēng)為PIN二極管或硅漂移探測(cè)器（SDD）。

這些探測(cè)器之間的關(guān)鍵差異之一是分辨率 — 或許清楚地區(qū)別具有相似能量的元素的才能。當(dāng)樣品中存在鎳和銅時(shí)，比如ENIG或ENEPIG樣品，正比計(jì)數(shù)器不能徹底解析鎳和銅的峰值。該儀器依靠于數(shù)學(xué)峰形擬合或運(yùn)用了附件硬件的次序剖析，附件硬件將添加丈量時(shí)刻。固態(tài)探測(cè)器可以徹底解析這些峰值，一起丈量?jī)蓚€(gè)元素以進(jìn)行更快速的剖析。兩種探測(cè)器均或許滿(mǎn)意IPC -4552A和IPC – 4556標(biāo)準(zhǔn)。關(guān)于元素易于分辨的外表處理（例如浸銀、浸錫或HASL），固態(tài)探測(cè)器的分辨率無(wú)任何優(yōu)勢(shì)。

除樣品中存在的元素之外，還要考慮鍍層厚度和光束尺度。固態(tài)探測(cè)器具有優(yōu)勢(shì)。SSD在丈量非常薄的涂層方面具有優(yōu)勢(shì)，因?yàn)檫@些探測(cè)器的背景噪聲往往低于正比計(jì)數(shù)器。假如電鍍小于?2μin（0.05μm），則值得考慮運(yùn)用固態(tài)探測(cè)器?？墒?，當(dāng)運(yùn)用機(jī)械準(zhǔn)直器丈量非常小的面積時(shí)，因?yàn)檩^大的有用面積，比例計(jì)數(shù)器可以供給更好的精度和丈量時(shí)刻。

功用

XRF鍍層儀器具有多種形狀和尺度，甚至包括用于丈量較大產(chǎn)品和總成部件的手持式儀器。您的決定將受到三個(gè)考慮因素的影響：樣品室規(guī)劃、樣品臺(tái)和先進(jìn)的可用性特征。

樣品室大小和儀器占用空間可根據(jù)線(xiàn)路板尺度進(jìn)行挑選。小型線(xiàn)路板可以放入任何尺度樣品室；但較大的線(xiàn)路板運(yùn)用更大的樣品臺(tái)和更大的樣品室則更方便。有些樣品室徹底關(guān)閉，這樣可以避免在剖析過(guò)程中線(xiàn)路板意外移動(dòng)。其他樣品室開(kāi)槽，這樣便于樣品裝載。開(kāi)槽樣品室中的底座或樣品臺(tái)足夠大，可支撐線(xiàn)路板，使其不會(huì)彎曲，從而避免影響成果。

樣品臺(tái)可為固定或電動(dòng)型，并且可編程。固定樣品臺(tái)足以對(duì)易于定位檢測(cè)面積的電路板上一個(gè)或幾個(gè)方位進(jìn)行點(diǎn)檢。用戶(hù)可以運(yùn)用固定樣品臺(tái)手動(dòng)定位樣品，可是關(guān)于具有復(fù)雜規(guī)劃和極小特征的電路板，在電動(dòng)樣品臺(tái)上的處理效果會(huì)更好，這種樣品臺(tái)可供給更好的準(zhǔn)確度來(lái)進(jìn)行微調(diào)。程控樣品臺(tái)還可以在樣品的不同方位進(jìn)行一系列丈量，從而運(yùn)用戶(hù)可執(zhí)行其他使命。

除XRF儀器中常見(jiàn)的特征之外，還有一些高檔特征可以進(jìn)步工作效率并使儀器更易于操作。其中之一是廣角相機(jī)。除用于準(zhǔn)確定位樣品進(jìn)行剖析的窄視角外，一些儀器還供給了更寬的角度來(lái)顯現(xiàn)更多的樣品。這使得從一個(gè)方位移動(dòng)到另一個(gè)方位變得更容易、更快速，并確保正在丈量正確的方位。另一個(gè)特征是模式識(shí)別，其指示軟件檢查樣品圖畫(huà)，并準(zhǔn)確定位準(zhǔn)確的預(yù)界說(shuō)丈量方位。這為用戶(hù)節(jié)省了很多的設(shè)置時(shí)刻。