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淺析鍍層測(cè)厚儀無(wú)法避免的測(cè)量誤差問(wèn)題

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淺析鍍層測(cè)厚儀無(wú)法避免的測(cè)量誤差問(wèn)題

發(fā)布日期:2021-11-05 作者:admin 點(diǎn)擊:

一、測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的誤差測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的測(cè)量誤差主要包含以下幾方面:

1、覆蓋層厚度的影響

2、基體金屬磁性的影響

3、基體金屬厚度的影響

4、材料的邊際效應(yīng)的影響

5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響

6、基體金屬剩磁的影響

7、基體金屬曲率的影響

8、基體金屬外表粗糙度的影響


鍍層測(cè)厚儀


二、對(duì)上述要素發(fā)生的測(cè)量誤差剖析如下:

1、關(guān)于較薄的覆蓋層,由于受儀器自身測(cè)量精度和覆蓋層外表粗糙度的影響,較難準(zhǔn)確測(cè)量覆蓋層厚度,尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的狀況;關(guān)于較厚的覆蓋層,其測(cè)量成果相對(duì)誤差近似為一常數(shù),誤差隨覆蓋層厚度添加而增大。鍍層測(cè)厚儀

2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料選用不同的熱處理辦法和冷加工工藝后,其磁特性均有較大差異,而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對(duì)磁鐵或檢測(cè)線(xiàn)圈的磁作用,為減小或消除磁特性差異發(fā)生的影響,應(yīng)選用磁特性與試樣基體相同或附近的金屬材料做為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

3、由于磁場(chǎng)在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān),當(dāng)基體厚度到達(dá)某臨界厚度時(shí),這種影響才干減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí),應(yīng)經(jīng)過(guò)化學(xué)辦法除掉試樣的部分覆蓋層,使用試樣基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

4、儀器對(duì)試樣外表的不接連靈敏,太接近試樣邊際或內(nèi)轉(zhuǎn)角處測(cè)量時(shí),磁場(chǎng)將會(huì)發(fā)生變化,測(cè)量成果將不可靠。因而,不要在接近不接連的部位如邊際、孔洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

5、金屬機(jī)械加工方向?qū)Σ牧系拇盘匦詴?huì)發(fā)生較大影響,當(dāng)使用雙式測(cè)頭或被磨損而不平整的單*式測(cè)頭測(cè)量時(shí),測(cè)量成果會(huì)受到磁性基體金屬機(jī)械加工(如軋制)方向的影響。因而,在試樣上測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭的方向與在校按時(shí)該測(cè)頭所取方向共同。

6、金屬材料由于磨削等加工辦法可能帶來(lái)剩磁,影響儀器測(cè)量,試樣測(cè)量前應(yīng)進(jìn)行消磁處理,并在互為180°的兩個(gè)方向上進(jìn)行測(cè)量。

7、基體金屬曲率的變化將影響測(cè)量成果,曲率半徑越小,對(duì)測(cè)量成果的影響越大。當(dāng)測(cè)量曲率較小的試樣時(shí),應(yīng)經(jīng)過(guò)化學(xué)辦法除掉試樣的部分覆蓋層,使用試樣的無(wú)膜部分作為基體對(duì)儀器校準(zhǔn)。

8、基體金屬外表粗糙度將影響測(cè)量成果,粗糙度程度添加,對(duì)測(cè)量成果的影響增大。應(yīng)對(duì)試樣基體多個(gè)方位進(jìn)行零點(diǎn)校對(duì),并在試樣不同方位上進(jìn)行屢次測(cè)量,測(cè)量次數(shù)至少應(yīng)添加到5次或以上,以減小影響。

三、測(cè)量辦法引進(jìn)的誤差測(cè)量辦法引進(jìn)的測(cè)量誤差主要包含以下幾方面:

1、料外表附著外來(lái)物質(zhì)

2、測(cè)頭取向

四、對(duì)上述要素發(fā)生的測(cè)量誤差剖析如下:

1、儀器測(cè)頭有必要與試樣外表緊密觸摸,當(dāng)試樣外表存在外來(lái)物質(zhì),如灰塵、油脂和腐蝕產(chǎn)物等,將影響測(cè)量成果,應(yīng)盡量去除,保持試樣外表清潔。同時(shí),在測(cè)量時(shí),還應(yīng)避開(kāi)難以除掉的缺陷。

2、考慮到地球重力場(chǎng)的影響,磁吸力原理的測(cè)厚儀測(cè)量成果會(huì)受磁體取向的影響,當(dāng)在水平或倒置方位上選用磁吸力原理的測(cè)厚儀測(cè)量時(shí),若測(cè)量裝置沒(méi)有在處得到支撐,應(yīng)分別在水平或倒置方位上對(duì)儀器校準(zhǔn)。

五、測(cè)量環(huán)境引進(jìn)的誤差測(cè)量環(huán)境引進(jìn)的測(cè)量誤差主要包含以下幾方面:

1、圍各種電氣設(shè)備所發(fā)生的強(qiáng)磁場(chǎng)

2、環(huán)境溫度

3、環(huán)境濕度

上述要素咱們可以采取措施盡量防止,比方:盡可能防止在強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下測(cè)量;在常溫常濕環(huán)境下即可滿(mǎn)足測(cè)量條件,因而這些誤差忽略不計(jì),不予剖析。鍍層測(cè)厚儀


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