XRF分析是一種成熟、值得信任的可靠技能，可用于丈量從珠寶到工程設備等各種部件的鍍層厚度。作為質(zhì)量操控流程的一個關鍵部分，您很可能會依托XRF的測驗成果來操控流程，并在發(fā)貨前測驗成品部件的質(zhì)量。

但是，盡管XRF是一種可靠的技能，但它也很容易得到錯誤成果，尤其是對于鍍層厚度丈量。在這篇文章中，我們將討論您的XRF丈量出錯的原因，以及您可以采取的預防措施。

XRF錯誤的源頭

一般來說，丈量犯錯有兩種原因：要么您的儀器有問題，要么您的丈量方法有問題。咱們先來看看儀器方面的問題。

如何保證您的XRF工作正常。

XRF分析儀是一種精密儀器，在其使用期內(nèi)–從您完結慣例查看到制造商年檢都需求小心使用。這是您保證XRF提供正確成果所需的必要工作。

*常規(guī)儀器檢測 

常規(guī)儀器檢測查看由操作員按照制造商主張的時刻距離進行。此類查看會監(jiān)測儀器的內(nèi)部性能，如X射線探測器強度、探測器分辨率和探測器增益。假如發(fā)現(xiàn)纖細改變，儀器會主動進行調(diào)整。而假如改變超出預期，您的分析儀會發(fā)出警報，此刻需求聯(lián)絡制造商。遵守制造商主張的查看距離是很重要的——假如時刻距離太長，就會錯失發(fā)現(xiàn)纖細改變的機遇，假如時刻距離太短，分析儀可能會過度糾正，因此也可能帶來錯誤。

*校準 

進行常規(guī)儀器查看之后，在使用XRF分析儀進行質(zhì)量操控之前，您需求驗證您的校準。您可以使用已知的出產(chǎn)零件或參閱樣（也稱為規(guī)范樣）。重要的是，此類參閱樣須從經(jīng)認證的供應商處購買，最好定期由ISO17025認可實驗室對其進行重新認證。

*儀器認證 

作為儀器年檢的一部分，主張您讓原始制造商對您的XRF分析儀進行重新認證，保證靈敏部件正常工作。這一般由專業(yè)工程師進行，其將進行全面診斷并提出相應主張。 

可能導致誤差的分析錯誤

即便運用設置完美的儀器，在進行丈量時，還會有其他因素可能導致過錯。

*未履行樣品對焦 

保證樣品被正確對焦是丈量過程中的一個關鍵步驟。保證X射線管、樣品和探測器彼此之間的間隔固定，這關于準確的鍍層厚度結果至關重要。假如X射線管、樣品和探測器彼此之間的間隔太大，則鍍層會變薄，反之亦然。假如您要丈量多層鍍層，過錯就會疊加。

*基底改變

基底內(nèi)的其他元素會干擾鍍層間的X射線相互作用。這意味著產(chǎn)生的X射線信號與正確的鍍層厚度無法關聯(lián)。好在目前這種影響已被充分認識理解，所以假如您運用與您的實際基底十分類似的資料進行校準，則可補償這種影響。本質(zhì)上，您的基底資料需與您的校準參閱樣十分類似。

*超出校準范圍的測量

您儀器的校準是針對有限規(guī)模內(nèi)的鍍層厚度和成分進行優(yōu)化。在較大規(guī)模內(nèi)，鍍層厚度和X射線強度之間的關系不是線性的，因而您不能保證在儀器校準規(guī)模之外也獲得牢靠的結果。您的XRF制造商能夠告訴您校準的測試極限，而且您也能夠在軟件上設置警告，假如丈量值超出“安全”規(guī)模，就會提示操作員，如此您能夠保證一直在校準極限規(guī)模內(nèi)進行丈量。