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技術(shù)知識(shí)

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  • 涂層測(cè)厚儀測(cè)量工作原理與常見的三種故障解析

    測(cè)厚儀（thicknessgauge是用來(lái)測(cè)量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)接連測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、紙張等）。這類儀表中有使用α射線、β射線、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有使用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)；有使用渦流原理的電
    發(fā)布時(shí)間：2022-06-17   點(diǎn)擊次數(shù)：130

  • 直讀光譜儀應(yīng)用的過程中受那些干擾？

    直讀光譜儀可用于鑄造、鍛造、機(jī)械配件、配備制造、質(zhì)檢、高校教育訓(xùn)練等領(lǐng)域。在直讀光譜儀剖析過程中，采用高穩(wěn)定的激起光源，激起頻率在150—500Hz之間改變，剖析不同的樣品，可選擇不同的激起參數(shù)，可達(dá)到最佳的剖析作用。在實(shí)際剖析中會(huì)遭到第三
    發(fā)布時(shí)間：2022-04-28   點(diǎn)擊次數(shù)：95

  • 案例分析：OES光譜儀和電腦無(wú)法連接問題

    儀器類型：OES落地式火花直讀光譜儀。問題現(xiàn)象描述：軟件提示無(wú)法連接儀器，電腦無(wú)法控制光譜儀。應(yīng)用背景知識(shí)：常見的分析儀器主機(jī)和電腦之間通訊方式有標(biāo)準(zhǔn)串口（RS232）、以太網(wǎng)、USB接口、GPIB接口等等。如果通訊異常通常會(huì)造成無(wú)法進(jìn)入軟
    發(fā)布時(shí)間：2022-01-13   點(diǎn)擊次數(shù)：176

  • 如何確保您的XRF鍍層分析提供準(zhǔn)確結(jié)果

    電子元件鍍層的XRF剖析是一項(xiàng)成熟的技能。XRF儀器的檢測(cè)在本質(zhì)上歸于無(wú)損檢測(cè)，且能夠剖析尺寸小于50μm的零件，是許多電子元件電鍍?cè)O(shè)備實(shí)現(xiàn)質(zhì)量控制程序的中心。然而，此類儀器如此簡(jiǎn)單使用的現(xiàn)實(shí)往往會(huì)在測(cè)試成果的安全性上帶來(lái)幻覺。對(duì)于電子元件
    發(fā)布時(shí)間：2022-01-11   點(diǎn)擊次數(shù)：152

  • 如何減少您的鍍層厚度XRF測(cè)量錯(cuò)誤

    XRF分析是一種成熟、值得信任的可靠技能，可用于丈量從珠寶到工程設(shè)備等各種部件的鍍層厚度。作為質(zhì)量操控流程的一個(gè)關(guān)鍵部分，您很可能會(huì)依托XRF的測(cè)驗(yàn)成果來(lái)操控流程，并在發(fā)貨前測(cè)驗(yàn)成品部件的質(zhì)量。但是，盡管XRF是一種可靠的技能，但它也很容易
    發(fā)布時(shí)間：2022-01-10   點(diǎn)擊次數(shù)：375

  • 涂鍍層測(cè)厚儀的分類與工作原理

    涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)丈量原理一般有以下五種類型:1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁資料上的非導(dǎo)磁層厚度丈量.導(dǎo)磁資料一般為:鋼鐵銀鎳.此種辦法丈量精度高.2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度丈量.此種辦法較磁性測(cè)厚法精度低.3.超聲波測(cè)厚法:目
    發(fā)布時(shí)間：2022-01-05   點(diǎn)擊次數(shù)：112

  • 解決HM1000A加熱升溫異常的問題

    儀器類型：HM1000A熱電離質(zhì)譜儀應(yīng)用背景知識(shí)：HM1000A工作時(shí)需要將樣品維持在一定溫度。問題現(xiàn)象描述：AP1熱電偶和溫度感應(yīng)線斷裂?，F(xiàn)場(chǎng)服務(wù)方案：工程師在客戶現(xiàn)場(chǎng)確認(rèn)到異常現(xiàn)象，開機(jī)后MS指示燈就亮黃色。打開軟件后發(fā)現(xiàn)AP1并未進(jìn)行
    發(fā)布時(shí)間：2021-12-27   點(diǎn)擊次數(shù)：60

  • 如何為您的電子元件鍍層挑選合適的XRF配置

    XRF剖析儀有多種裝備可供挑選：探測(cè)器類型、光學(xué)系統(tǒng)類型、自動(dòng)化裝備，乃至是臺(tái)式或手持式剖析儀。在本文中，我們將探討運(yùn)用XRF丈量電子元件鍍層所存在的應(yīng)戰(zhàn)，并評(píng)論在出產(chǎn)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)牢靠和快速丈量的最佳裝備。外形要素：手持式還是臺(tái)式XRF剖析儀
    發(fā)布時(shí)間：2021-12-22   點(diǎn)擊次數(shù)：42

  • 如何使用手持式XRF繪制工藝設(shè)備成分圖

    在食品、藥品和玩具中發(fā)現(xiàn)異物是比較常見的現(xiàn)象，但卻會(huì)讓制造商感到頭疼。其中一個(gè)主要問題是進(jìn)行污染物溯源，或鑒別虛假報(bào)告。這時(shí)，使用像X-MET8000（一種手持式X射線熒光元素分析儀）這樣的儀器來(lái)繪制工藝設(shè)備成分圖，將會(huì)為您節(jié)省時(shí)間和金錢，
    發(fā)布時(shí)間：2021-12-20   點(diǎn)擊次數(shù)：80

  • 用XRF測(cè)量電鍍液化學(xué)成分

    電鍍液的質(zhì)量會(huì)影響鍍層的特性和達(dá)到所需厚度的電鍍時(shí)間。檢測(cè)鍍液的化學(xué)成分對(duì)于確保成分正確至關(guān)重要。密切關(guān)注這一點(diǎn)也有助于確保電鍍槽本身不會(huì)被電鍍液腐蝕。主要困難在于電鍍液不是持續(xù)不變的。添加了正確的成分之后，電鍍過程本身就會(huì)改變電鍍液的成分
    發(fā)布時(shí)間：2021-12-15   點(diǎn)擊次數(shù)：63

  • 如何提高大型樣品上微小測(cè)量點(diǎn)的XRF測(cè)量效率

    XRF分析是驗(yàn)證電子器件的鍍層厚度和成分的首選技術(shù)。XRF準(zhǔn)確、精確、快速且無(wú)損，可確保多層鍍層在部件的預(yù)期保質(zhì)期內(nèi)性能保持良好。如果您遵守IPC指南，那么XRF將是許多規(guī)范的首選技術(shù)。然而，雖然XRF的分析時(shí)間只有數(shù)秒鐘，但設(shè)置時(shí)間可能要
    發(fā)布時(shí)間：2021-12-09   點(diǎn)擊次數(shù)：78

  • 淺析鍍層測(cè)厚儀無(wú)法避免的測(cè)量誤差問題

    一、測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的誤差測(cè)量目標(biāo)引進(jìn)的測(cè)量誤差主要包含以下幾方面：1、覆蓋層厚度的影響2、基體金屬磁性的影響3、基體金屬厚度的影響4、材料的邊際效應(yīng)的影響5、基體金屬機(jī)械加工方向的影響6、基體金屬剩磁的影響7、基體金屬曲率的影響8、基體金屬外
    發(fā)布時(shí)間：2021-11-05   點(diǎn)擊次數(shù)：54
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